本文深入探讨了开关电源中传导电磁干扰（EMI）问题的成因及其对系统性能的影响。通过合理的优化设计方法，如使用差模和共模滤波器、优化PCB布局等手段来有效减少干扰，帮助工程师们构建更高效、更可靠的电源解决方案。

电磁干扰（EMI）在各个应用领域中都干扰着系统的稳定性和信号的完好性，既然无法避免，那如何更多地从设计的角度解决问题是关键，下面我们来分析开关电源中常见的几种EMI问题。

如图所示在传导发射测试中干扰信号由LISN感应，由此我们可以根据LISN进行差模（DM）和共模（CM）干扰模型的建立。以BUCK电路为例。

对于图2使用电流源替代开关管，使用电压源替代SW电压。其中IS波形与HIS 相同，VS波形与VSW相同。

使用叠加原理进行化简，分别将电压源短路和电流源断路。

图4 叠加原理分解后差模等效电路

由图4可知差模干扰能被LISN感知的主要集中在IS通路中同时在高频交流干扰，0.1uF可以等效为短路，则BUCK电路差模模型可简化为下图。

由此可知差模干扰主要由IS引起。IS 与开关管电流波形相同。差模干扰主要由输入回路中电流变化（di/dt）所产生。

同理进行共模模型的简化，共模干扰主要由寄生电容和机壳、铜皮组成的回路进行传递。所以引入SW到大地的寄生电容CP，输出到大地寄生电容CPO。同时共模干扰为输入线径中相同分量，所以将Cf和CIN等效为短路，最终如下图所示。

同样进行叠加原理

继续简化可得下图

由此可知共模干扰主要由VS引起，VS 与SW波形相同，则共模干扰主要由SW处电压变化（dv/dt）所产生。

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